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MT5668M-8G SOP-8脚封装 软件版本:AH180912 软件名称:MPT00/20150115,(改善刻录转功能时反应慢) 符合ROHS/REACH标准
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VSC8489YJU-17,FCBGA196,万兆PHY芯片,支持两路RXAUI/XAUI转SFP+/KR SERDES.同时也支持1588和同步以太网
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BGA-100-1.0-12.0X16.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-12.0X16.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-100-1.0-12.0X16.0探针转DIP48测座
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BGA-100-1.0-12.0X16.0-8X11 BGA-88-1.0X12.0X16.0
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BGA-100-1.0-12.0X18.0-8X11-EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-12.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-100-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-13.0X15.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-100-1.0-14.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-88-1.0-14.0X18.0-8X11EMMC100下压弹片转USB测试座
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BGA-107-0.8-11.0X14.0 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-11.0X14.0H0.8-1.5 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-11.5X13.0 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-11.5X13.0H0.8-1.5 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-12.0X17.0 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-12.0X17.0H0.8-1.5 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-12.0X20.0 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-107-0.8-13.0X17.0 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA132转48适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA32转96适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA132转96适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA132一拖二转96适配器
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BGA-132-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA132一拖二转96适配器
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BGA-137-0.8-11.0X14.0 OT 弹片转DIP48测座
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BGA-137-0.8-11.0X14.0 翻盖探针转DIP48测座
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA152转48适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA152转96适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 SSD闪存测试座一拖四 BGA152转96适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器
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BGA-152-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA152一拖二转96适配器
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-17-0.5-12.0X18.0 EMCP186转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP153转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP162转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP169转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-20-0.5-11.5X13.0EMCP186转20PIN测试座 翻盖式
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BGA-272-0.8-14.0X18.0/2246EN转BGA272一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-272-0.8-14.0X18.0 2246EN转BGA272一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP162转20PIN测试座下压式
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP186转20PIN测试座下压式
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BGA-30-0.5-11.5X13.0 EMCP186转20PIN测试座下压式
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BGA-88-0.8-12.0X18.0/2256K转DIP48一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-0.8-12.0X18.0转DIP48一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/2246EN转DIP48一拖四夹具(128X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/2246EN转DIP48一拖四夹具(128X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-1.0-12.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB
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BGA-88-1.0-12.0X18.0MM翻盖弹片转DIP48测座
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BGA-88-1.0-12.0X18.0MMBGA-100-1.0-12.0X18.0MM
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BGA-88-1.0-12.0X18.0MM翻盖探针转DIP48测座
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BGA-88-1.0-12.0X18.0MM-8X11-D0.5/0.32MMBGA100翻盖探针转
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA88转48适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 4CE闪存测试座一拖四 BGA88转48适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0 测试8CE转96 BGA88一拖二转96适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/2246EN转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB,128X16MB)
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/2246EN转BGA132/152一拖二夹具(256X16
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB)
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/256K转BGA132/152一拖二夹具(256X16MB
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/SSD闪存测试座一拖四 BGA100/88转96适配器
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BGA-88-1.0-14.0X18.0/SSD闪存测试座一拖四 BGA100/88转96适配器
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DFN2X2-8L(0.5)转DIP8老化测试座带板/CNV-DFN8-DIP
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SZJ/HI-REL/HR/QSYQ
DFN-8-0.5-2.0X2.0-4;0
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0
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EMCP162转20PIN测试座(翻盖)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-11.5X13.0
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-12.0X16.0
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EMCP162转20PIN测试座(下压)BGA-162-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0
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EMCP186转20PIN测试座(翻盖)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-11.5X13.0数据恢复测试
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0
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EMCP186转20PIN测试座(下压)BGA-186-0.5-12.0X16.0数据恢复测试
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座 翻盖式
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座下压式
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EMCP221-0.5-17-11.5X13.0EMCP221转20PIN测试座下压式
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EMCP-FBGA-162-0.5合金翻盖探针转SD测座
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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸EMCP-162-0.5合金翻盖探针转SD测试座
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EMCP-UBGA-186-0.5合金翻盖探针转SD测座
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EMMC-UBGA-186-0.5-任意尺寸EMCP-186-0.5合金翻盖探针转SD测试座
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EMMC153-169-0.5-11.5X13.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-11.5X13.0 FBGA-169-0.5-11.5X13.0下压转SD
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EMMC153-169-0.5-12.0X16.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-12.0X16.0 FBGA-169-0.5-12.0X16.0下压转SDD
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EMMC153-169-0.5-12.0X18.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-12.0X18.0 FBGA-169-0.5-12.0X18.0下压转SD
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EMMC153-169-0.5-14.0X18.0下压弹片转SD测试座
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BGA-153-0.5-14.0X18.0 FBGA-169-0.5-14.0X18.0下压转SD
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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸EMCP-162-0.5翻盖探针转SD测座
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EMMC-FBGA-162-0.5-任意尺寸EMCP-162-0.5翻盖探针转SD测试座
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EMMC-FBGA-186-0.5-任意尺寸EMCP-186-0.5翻盖探针转SD测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-11.5X13.0测试座转DIP48转SD测座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X16.0测试座转DIP48转SD测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-12.0X18.0测试座转DIP48转SD测试座
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EMMC-UBGA-153-0.5-14.0X18.0测试座转DIP48转SD测座
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